BAS16LT3G (DIODE GEN PURP 75V 200MA SOT23-3)
BAS16LT3G характеристики
| Производитель | ON Semiconductor |
|---|---|
| Серия | - |
| Part Status | Active |
| Упаковка | Cut Tape (CT) |
| Вид монтажа | Surface Mount |
| Корпус | TO-236-3 |
| SC-59 | SOT-23-3 |
| Исполнение корпуса | SOT-23-3 (TO-236) |
| Base Part Number | BAS16 |
| Тип диода | Standard |
| Cреднее значение выпрямленного тока (Io) | 200mA (DC) |
| Прямое напряжение (Vf) (Макс) @ If | 1.25V @ 150mA |
| Ток утечки при Обратном напряжении (Vr) | 1µA @ 100V |
| Максимальное обратное напряжение (Vr) | 100V |
| Скорость | Small Signal = |
| Время восстановления запорного слоя (trr) | 6ns |
| Рабочая температура pn-прехода | -55°C ~ 150°C |
| Емкость @ Vr | F |
| 2pF @ 0V | 1MHz |
Рекомендации по подбору
Диод BAS16LT3G (ON Semiconductor) — кремниевый выпрямитель общего назначения с максимальным обратным напряжением 100 В и средним выпрямленным током 200 мА. Корпус SOT‑23‑3, малое время восстановления (6 нс) и низкая ёмкость (2 пФ) делают его пригодным для высокоскоростной коммутации, защиты входов и цепей маломощного питания в промышленной и автомобильной электронике.
При подборе аналога необходимо учитывать не только основные параметры (VRRM, IF(AV)), но и динамические характеристики. Даже при одинаковом напряжении и токе диод с большим временем восстановления может увеличить потери на переключение, а другое прямое падение напряжения — изменить уровни логического сигнала. Форм‑фактор SOT‑23‑3 (TO‑236) должен совпадать с посадочным местом на плате.
- Проверьте, что обратное напряжение (VR) и прямой ток (IF) заменяющего диода не ниже исходных значений — 100 В и 200 мА соответственно.
- Убедитесь, что время обратного восстановления (trr) ≤ 6 нс, иначе возможны искажения сигнала или рост динамических потерь в высокочастотных цепях.
- Сравните прямое падение (VF) при рабочем токе: отклонение более 0,2 В может влиять на температурный режим и пороговые уровни.
- Уточните диапазон температур p‑n перехода (−55…+150 °C) и ёмкость (≤ 2 пФ) — их несоответствие ведёт к риску отказа при перегрузках или в высокоскоростных интерфейсах.